掃描電鏡是一種用于高分辨率微區(qū)形貌分析的大型精細儀器。具有景深大、分辨率高，成像直觀、立體感強、放大倍數(shù)范圍廣以及待測樣品可在三維空間內(nèi)進行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點。

sem掃描電鏡具有可測樣品種類豐富，幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時獲得形貌、結(jié)構(gòu)、成分和結(jié)晶學(xué)信息等優(yōu)點。目前，sem掃描電鏡已被廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、司法、地球科學(xué)、材料學(xué)以及工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域的微觀研究，僅在地球科學(xué)方面就包括了結(jié)晶學(xué)、礦物學(xué)、礦床學(xué)、沉積學(xué)、地球化學(xué)、寶石學(xué)、微體古生物、天文地質(zhì)、油氣地質(zhì)、工程地質(zhì)和構(gòu)造地質(zhì)等。

掃描電鏡類型多樣，不同類型的sem掃描電鏡存在性能上的差異。根據(jù)電子槍種類可分為三種：場發(fā)射電子槍、鎢絲槍和六硼化鑭。其中，場發(fā)射掃描電鏡根據(jù)光源性能可分為冷場發(fā)射掃描電鏡和熱場發(fā)射掃描電鏡。

冷場發(fā)射掃描電鏡對真空條件要求高，束流不穩(wěn)定，發(fā)射體使用壽命短，需要定時對針尖進行清洗，僅局限于單一的圖像觀察，應(yīng)用范圍有限；而熱場發(fā)射掃描電鏡不僅連續(xù)工作時間長，還能與多種附件搭配實現(xiàn)綜合分析。在地質(zhì)領(lǐng)域中，我們不僅需要對樣品進行初步形貌觀察，還需要結(jié)合分析儀對樣品的其它性質(zhì)進行分析，所以熱場發(fā)射掃描電鏡的應(yīng)用更為廣泛。

可以通過電子學(xué)方法有效地控制和改善圖像質(zhì)量，如亮度及反差自動保持，試樣傾斜角度校正，圖象旋轉(zhuǎn)，或通過Y調(diào)制改善圖象反差的寬容度，以及圖象各部分亮暗適中。采用雙放大倍數(shù)裝置或圖象選擇器，可在熒光屏上同時觀察放大倍數(shù)不同的圖象。

上面幾段內(nèi)容就是小編介紹的掃描電鏡的醫(yī)用以及在使用中如何改善掃描電鏡的圖像質(zhì)量。如果您對于sem掃描電鏡還有其他問題。歡迎網(wǎng)站留言或是直接撥打我們的咨詢熱線4001-123-022直接進行咨詢，咱們下期分享內(nèi)容再見！