上期我們把場地環(huán)境之震動和磁干擾掃描電鏡產(chǎn)生的影響一一進行了詳細說明，這期分享內容為場地環(huán)境之底線和噪音對sem掃描電鏡的影響，希望能夠幫助大家更好地理解并有效防范。

①地線的影響

精密的分析儀器基本都要求獨立地線，如果不接地線或者沒有獨立地線都有可能導致電干擾，使得分析結果異常。對于電鏡而言，一般表現(xiàn)為圖像上出現(xiàn)毛刺。

這里有一個判斷干擾類型的小竅門：

電干擾和振動干擾對圖像的影響很相似，通常無法直觀分辨。但可以通過改變工作距離（WD）的方式來進行判斷，如果干擾幅度跟隨工作距離變化而變化，則是振動干擾，如果未發(fā)生不變化，則是電干擾。

②噪音的影響

超出儀器允許強度的噪音，無論是低頻或是高頻，聲波（空氣的擾動）都會對電子顯微鏡的電子鏡筒產(chǎn)生擾動，從而改變電子束位置，導致圖像的異常，影響設備使用。因此，如果測試環(huán)境附近有任何可能的聲源干擾，均需要使用專門的設備測試噪音。如果噪音超標，則需要通過隔離或者降噪設備來消除噪音。

對于如電子顯微鏡類的高質量精密儀器，場地環(huán)境造成的影響尤如“蝴蝶效應”。有學者認為，由于環(huán)境影響造成的巨大浪費，“花100萬美元買回來的儀器，只能當10萬美元的用”。

許多儀器的使用者并不知曉，場地環(huán)境會對儀器的使用和性能產(chǎn)生這么大的影響。但是電子顯微鏡等精密儀器對于環(huán)境的敏感度是人體的成百上千倍，我們看不到、感受不到的事物也許正在影響、改變著我們，我們一定要加以重視。