掃描電鏡的類(lèi)型主要根據(jù)其電子槍的種類(lèi)、分辨率、應(yīng)用領(lǐng)域等特點(diǎn)進(jìn)行分類(lèi)。以下是一些主要的SEM掃描電鏡類(lèi)型：

一、按電子槍種類(lèi)分類(lèi)

鎢燈絲掃描電鏡

特點(diǎn)：總發(fā)射電流和束斑都較大，抗干擾能力和穩(wěn)定性較好。

應(yīng)用：適合大量的常規(guī)檢測(cè)，如形貌觀(guān)察、顯微結(jié)構(gòu)分析、斷口形貌分析等。在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機(jī)械、化學(xué)、化工、物理、電子、生物、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域都有廣泛的用途。

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

特點(diǎn)：高分辨率，分為冷場(chǎng)和熱場(chǎng)兩種。冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的發(fā)射面積較小、能量集中，便于將電子束聚焦于一個(gè)很小的點(diǎn)以提高分辨率；熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡則通過(guò)采取各種有效措施，將電子束匯聚于一個(gè)理想的點(diǎn)，達(dá)到冷場(chǎng)發(fā)射電鏡的分辨率水平。

應(yīng)用：適用于納米材料精細(xì)形貌的觀(guān)察，可產(chǎn)生高質(zhì)量高分辨二次電子圖像。該儀器配備的X射線(xiàn)能譜儀可對(duì)塊狀樣品做定性及半定量分析，適用于物理、材料、半導(dǎo)體、超導(dǎo)體、化學(xué)高分子、地質(zhì)礦物、生物、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的微觀(guān)研究和分析。

二、按分辨率和應(yīng)用領(lǐng)域分類(lèi)

高分辨率掃描電鏡

特點(diǎn)：分辨率極高，能夠清晰呈現(xiàn)樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu)。

應(yīng)用：適用于需要高分辨率成像的領(lǐng)域，如納米技術(shù)、材料科學(xué)等。

環(huán)境掃描電鏡

特點(diǎn)：采用多級(jí)真空壓差技術(shù)，在保持電子槍和鏡筒的高真空狀態(tài)下，樣品室內(nèi)可以保持較高的氣壓及較高的濕度和壓力，而且溫度可調(diào)。

應(yīng)用：解決了生物樣品失水變形問(wèn)題，樣品無(wú)須干燥及鍍膜，能保持生物活體形態(tài)結(jié)構(gòu)的真實(shí)性。既可以在高真空狀態(tài)下工作，又可以在低真空狀態(tài)下工作。適用于觀(guān)察新鮮活體生物樣品以及濕潤(rùn)試樣。

其他專(zhuān)用掃描電鏡

根據(jù)特定應(yīng)用領(lǐng)域的需求而設(shè)計(jì)的掃描電鏡，如用于半導(dǎo)體制造的芯片檢測(cè)掃描電鏡、用于地質(zhì)學(xué)研究的礦物成分分析掃描電鏡等。

三、按功能分類(lèi)

普通掃描電鏡

主要用于觀(guān)察樣品的形貌和微觀(guān)結(jié)構(gòu)。

組合掃描電鏡

如SEM-EDS（掃描電鏡+能譜儀）組合設(shè)備，能夠同時(shí)實(shí)現(xiàn)樣品的形貌觀(guān)察和元素成分分析。

綜上所述，SEM掃描電鏡的類(lèi)型多種多樣，每種類(lèi)型都有其獨(dú)特的特點(diǎn)和應(yīng)用領(lǐng)域。在選擇SEM掃描電鏡時(shí)，需要根據(jù)具體的研究需求和應(yīng)用場(chǎng)景進(jìn)行選擇。