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MORE+微儀光電（天津）有限公司是一家集顯微鏡、顯微鏡自動(dòng)化、顯微專(zhuān)用攝像系統(tǒng)及圖像分析系統(tǒng)的研發(fā)、生產(chǎn)及銷(xiāo)售為一體的多元化高科技企業(yè)。公司擁有一支專(zhuān)業(yè)從事顯微儀器應(yīng)用技術(shù)研究，新產(chǎn)品新技術(shù)開(kāi)發(fā)的工程技術(shù)團(tuán)隊(duì)。 在傳統(tǒng)光學(xué)顯微成像技術(shù)上融入了攝像計(jì)算機(jī)分析系統(tǒng)及機(jī)械自動(dòng)化系統(tǒng)，不斷開(kāi)發(fā)出能滿(mǎn)足科研教學(xué)、機(jī)械制造、電子材料、紡織纖維、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油化工、航空航天、計(jì)量科學(xué)、軍事公安、農(nóng)林牧漁等幾乎所有應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行研究分析的新產(chǎn)品和新技術(shù)。 致力于向客戶(hù)提供原位透射電鏡解決方案、臺(tái)式掃描電鏡,掃描電鏡,臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī),sem掃描電鏡,原位掃···
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2024-09-13
SEM掃描電鏡的制樣原則介紹
掃描電鏡的制樣原則主要涉及樣品的準(zhǔn)備、處理以及確保樣品在掃描過(guò)程中能夠穩(wěn)定、清晰地呈現(xiàn)其形貌和結(jié)構(gòu)。以下是詳細(xì)的制樣原則介紹：一、樣品基本要求 物理性質(zhì)：樣品應(yīng)為固體，無(wú)毒、無(wú)放射性、無(wú)污染、無(wú)磁、無(wú)水，且成分穩(wěn)定。導(dǎo)電性：樣品需具有一定的導(dǎo)電性，以便將電子束引入樣品并將多余的電荷導(dǎo)出，避免荷電效應(yīng)導(dǎo)致的圖像失真或模糊。對(duì)于非導(dǎo)電樣品，需進(jìn)行導(dǎo)電處理，如鍍金、鍍碳等。...
MORE2024-09-12
你知道SEM掃描電鏡如何制備含水的樣品嗎？
掃描電鏡制備含水樣品的過(guò)程相對(duì)復(fù)雜，需要特別注意樣品的干燥和導(dǎo)電性處理，以確保在真空環(huán)境下能夠獲得高質(zhì)量的圖像。以下是一個(gè)詳細(xì)的制備流程：1. 取材與清洗 取材：選擇合適的生物或含水樣品，確保樣品具有代表性且能夠反映所需觀(guān)察的特征。...
MORE2024-09-11
臺(tái)式掃描電鏡和落地式掃描電鏡對(duì)比
臺(tái)式掃描電鏡與落地式掃描電鏡在多個(gè)方面存在顯著差異，以下是對(duì)兩者主要對(duì)比點(diǎn)的詳細(xì)分析：一、外型尺寸與安裝環(huán)境 臺(tái)式掃描電鏡：體積小巧，通常僅有一臺(tái)臺(tái)式電腦大小，占地面積小，安裝靈活，無(wú)需特殊環(huán)境，甚至可以放置在產(chǎn)線(xiàn)旁、移動(dòng)車(chē)廂內(nèi)，抗擾性強(qiáng)，適合普通實(shí)驗(yàn)環(huán)境。...
MORE2024-09-10
SEM掃描電鏡干燥方法介紹
掃描電鏡干燥方法是樣品制備過(guò)程中至關(guān)重要的一步，它旨在完全去除樣品中的水分或脫水劑，以避免在真空環(huán)境下形成水蒸氣，從而確保掃描電鏡分析的準(zhǔn)確性和圖像質(zhì)量。以下是幾種常見(jiàn)的SEM掃描電鏡干燥方法介紹：1. 空氣干燥法（自然干燥法） 原理：將經(jīng)過(guò)脫水的樣品暴露在空氣中，使脫水劑逐漸揮發(fā)干燥。...
MORE2024-09-09
SEM掃描電鏡維護(hù)保養(yǎng)建議
針對(duì)掃描電鏡的維護(hù)保養(yǎng)，以下是一些具體的建議，旨在確保設(shè)備的長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行和高質(zhì)量成像能力：一、環(huán)境要求 放置環(huán)境：SEM掃描電鏡應(yīng)放置在干燥、清潔、無(wú)塵的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中，避免灰塵和化學(xué)污染物對(duì)設(shè)備造成損害。...
MORE2024-09-06
SEM掃描電鏡在地質(zhì)礦物學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用介紹
掃描電鏡在地質(zhì)礦物學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用極為廣泛，主要得益于其高分辨率、大深度視野、高靈敏度以及非接觸測(cè)量的特性。以下是對(duì)SEM掃描電鏡在地質(zhì)礦物學(xué)領(lǐng)域應(yīng)用的詳細(xì)介紹：一、地質(zhì)礦物形態(tài)與成分分析 表面形貌觀(guān)察：SEM掃描電鏡能夠清晰地觀(guān)察礦物顆粒的表面形貌，如形態(tài)、大小、分布及表面結(jié)構(gòu)特征，這對(duì)于理解礦物的成因、成巖過(guò)程及次生變化具有重要意義。...
MORE2024-09-05
SEM掃描電鏡在有色金屬行業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用介紹
掃描電鏡在有色金屬行業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用非常廣泛，主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：一、微觀(guān)形貌與組織分析 高分辨率成像：SEM掃描電鏡利用極狹窄的電子束掃描樣品表面，通過(guò)收集二次電子等信號(hào)來(lái)形成高分辨率的圖像，能夠清晰地展示有色金屬材料的微觀(guān)形貌，如晶粒結(jié)構(gòu)、相分布、析出物形態(tài)等。...
MORE2024-09-04
SEM掃描電鏡的成品圖片有那些特點(diǎn)
掃描電鏡的成品圖片通常具有以下幾個(gè)特點(diǎn)：高分辨率：SEM掃描電鏡圖片能夠清晰地顯示樣品的細(xì)節(jié)和顯微結(jié)構(gòu)，邊界銳利，不模糊。高分辨率是掃描電鏡圖像的重要特點(diǎn)之一，使得觀(guān)察者能夠看清樣品的微小結(jié)構(gòu)和表面特征。...
MORE2024-09-03
掃描電鏡如何進(jìn)行金屬斷裂失效分析
SEM掃描電鏡在金屬斷裂失效分析中扮演著至關(guān)重要的角色。它通過(guò)高分辨率成像和能譜分析（EDS）技術(shù)，能夠揭示金屬斷裂的微觀(guān)機(jī)制和失效原因。以下是掃描電鏡進(jìn)行金屬斷裂失效分析的主要步驟和關(guān)鍵點(diǎn)：一、樣品準(zhǔn)備 取樣：從斷裂的金屬部件上取下有代表性的樣品，確保樣品包含斷裂區(qū)域及其周?chē)鷧^(qū)域。...
MORE2024-09-02
SEM掃描電鏡的簡(jiǎn)單操作流程介紹
掃描電鏡的簡(jiǎn)單操作流程通常包括以下幾個(gè)關(guān)鍵步驟。以下是一個(gè)基于多個(gè)權(quán)威來(lái)源的概括性介紹：一、開(kāi)機(jī)與預(yù)熱 接通電源：S先，確保SEM掃描電鏡的電源已正確接通。預(yù)熱：打開(kāi)電源開(kāi)關(guān)后，通常需要等待一段時(shí)間讓電鏡系統(tǒng)預(yù)熱至穩(wěn)定狀態(tài)。預(yù)熱時(shí)間可能因設(shè)備型號(hào)而異，一般需幾分鐘到半小時(shí)不等。...
MORE2024-08-30
定期保養(yǎng)掃描電鏡需要做那些內(nèi)容？
定期保養(yǎng)掃描電鏡是確保其長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行和保持高質(zhì)量成像能力的關(guān)鍵。以下是定期保養(yǎng)掃描電鏡所需進(jìn)行的主要內(nèi)容：一、清潔與維護(hù) 外殼與內(nèi)部部件清潔： 使用適當(dāng)?shù)那鍧崉┖腿彳浀那鍧嵅?，定期清潔掃描電鏡的外殼、控制面板、鏡頭和樣品臺(tái)等部件，注意不損壞任何敏感部件。...
MORE2024-08-29
你知道SEM掃描電鏡為什么要防震動(dòng)嗎？
SEM掃描電鏡需要防震動(dòng)的原因主要有以下幾點(diǎn)：1. 高分辨率要求 SEM掃描電鏡具有極高的分辨率，能夠觀(guān)察到樣本表面的微小細(xì)節(jié)。這種高分辨率成像能力對(duì)環(huán)境的穩(wěn)定性要求極高。任何來(lái)自外部的振動(dòng)或震動(dòng)都可能對(duì)圖像質(zhì)量產(chǎn)生負(fù)面影響，導(dǎo)致圖像模糊或失真，從而影響對(duì)樣本表面形貌的準(zhǔn)確觀(guān)察和分析。...
MORE2024-08-28
SEM掃描電鏡制樣之如何制備片狀樣品
在掃描電鏡制樣過(guò)程中，制備片狀樣品需要遵循一系列步驟以確保樣品能夠適合SEM掃描電鏡的觀(guān)察和分析。以下是一個(gè)詳細(xì)的制備流程：一、樣品選擇 根據(jù)研究目的和需要觀(guān)察的特征，選擇合適的片狀樣品。樣品應(yīng)具有一定的導(dǎo)電性，以便進(jìn)行電子束的引導(dǎo)和檢測(cè)。如果樣品本身導(dǎo)電性不佳，后續(xù)可能需要進(jìn)行導(dǎo)電處理。...
MORE2024-08-27
SEM掃描電鏡如何制備含水的樣品
掃描電鏡在制備含水樣品時(shí)，需要特別注意樣品的干燥和導(dǎo)電處理，以確保在真空環(huán)境中能夠獲得清晰的圖像并保護(hù)設(shè)備。以下是制備含水樣品的主要步驟和注意事項(xiàng)：一、樣品準(zhǔn)備 取材：選擇新鮮、具有代表性的含水樣品，如生物組織、高分子材料等。確保樣品大小適中，以便于處理和觀(guān)察。...
MORE2024-08-26
SEM掃描電鏡的原理介紹
掃描電鏡的原理主要基于電子與物質(zhì)的相互作用。以下是其詳細(xì)原理介紹：一、電子束的產(chǎn)生與聚焦 電子槍?zhuān)涸赟EM掃描電鏡的鏡筒頂部，電子槍負(fù)責(zé)產(chǎn)生一束高能電子。這些電子的能量通常可達(dá)數(shù)十千電子伏特（keV），具有足夠的穿透力和能量與樣品表面的原子發(fā)生相互作用。...
MORE2024-08-23
SEM掃描電鏡在玻璃纖維領(lǐng)域的具體應(yīng)用
掃描電鏡在玻璃纖維領(lǐng)域的具體應(yīng)用主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：一、表面形貌觀(guān)察吧 SEM掃描電鏡能夠高分辨率地觀(guān)察玻璃纖維的表面形貌，包括纖維的直徑、表面粗糙度、裂紋、孔洞等細(xì)節(jié)。這對(duì)于評(píng)估玻璃纖維的質(zhì)量、均勻性和表面特性至關(guān)重要。通過(guò)掃描電鏡圖像，研究人員可以直觀(guān)地了解玻璃纖維的微觀(guān)結(jié)構(gòu)，從而優(yōu)化生產(chǎn)工藝，提高產(chǎn)品質(zhì)量。...
MORE2024-08-22
SEM掃描電鏡在本科實(shí)驗(yàn)教學(xué)中的應(yīng)用
掃描電鏡在本科實(shí)驗(yàn)教學(xué)中具有廣泛的應(yīng)用，它不僅能夠幫助學(xué)生直觀(guān)理解微觀(guān)世界的奧秘，還能提升學(xué)生的實(shí)驗(yàn)技能和科研能力。以下是SEM掃描電鏡在本科實(shí)驗(yàn)教學(xué)中的具體應(yīng)用：一、實(shí)驗(yàn)教學(xué)內(nèi)容 掃描電鏡的構(gòu)造與原理 學(xué)生通過(guò)實(shí)驗(yàn)課程了解SEM掃描電鏡的基本構(gòu)造，包括電子槍、電子透鏡、掃描系統(tǒng)、電子收集系統(tǒng)等關(guān)鍵部件。...
MORE2024-08-21
SEM掃描電鏡無(wú)圖像故障怎么解決
掃描電鏡無(wú)圖像故障是一個(gè)相對(duì)復(fù)雜的問(wèn)題，可能涉及多個(gè)部件和環(huán)節(jié)。以下是一些解決步驟和建議，供您參考：一、初步檢查與診斷 檢查電源與連接線(xiàn)：確保SEM掃描電鏡的電源正常，沒(méi)有電壓波動(dòng)或斷電情況。檢查所有連接線(xiàn)是否牢固連接，包括電源線(xiàn)、信號(hào)線(xiàn)等。...
MORE2024-08-20
做SEM掃描電鏡實(shí)驗(yàn)時(shí)對(duì)樣品有那些要求
掃描電鏡實(shí)驗(yàn)對(duì)樣品的要求相對(duì)較為嚴(yán)格，以確保獲取準(zhǔn)確、清晰的圖像。以下是SEM掃描電鏡實(shí)驗(yàn)對(duì)樣品的具體要求：一、樣品的基本性質(zhì) 樣品類(lèi)型：SEM掃描電鏡適用于多種類(lèi)型的樣品，包括粉末、液體、固體、薄膜和塊體。然而，不同類(lèi)型的樣品在制備和測(cè)試過(guò)程中可能需要采用不同的方法。物理性質(zhì)： 樣品應(yīng)為固體，且無(wú)毒、無(wú)放射性、無(wú)污染、無(wú)磁、無(wú)水。樣品成分應(yīng)穩(wěn)定，以避免在測(cè)試過(guò)程中發(fā)生化學(xué)變化或相變。...
MORE2024-08-19
SEM掃描電鏡那納米技術(shù)領(lǐng)域的應(yīng)用介紹
掃描電鏡在納米技術(shù)領(lǐng)域的應(yīng)用非常廣泛且深入，為納米科學(xué)和技術(shù)的發(fā)展提供了強(qiáng)有力的支持。以下是SEM掃描電鏡在納米技術(shù)領(lǐng)域應(yīng)用的詳細(xì)介紹： 一、納米材料形貌觀(guān)察與分析 直接觀(guān)察納米結(jié)構(gòu)：掃描電鏡能夠以極高的分辨率直接觀(guān)察納米材料的形貌，如納米顆粒、納米線(xiàn)、納米管、納米薄膜等的結(jié)構(gòu)、尺寸、分布和均勻度。這有助于科學(xué)家和工程師了解納米材料的基本形態(tài)和微觀(guān)結(jié)構(gòu)。...
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